導(dǎo)航
以高速?高精度?高可靠性且有市場(chǎng)實(shí)際應(yīng)用的分光器MCPD系列為基礎(chǔ)，在中國(guó)的顯示器市場(chǎng)上有著20年以上銷售實(shí)例，為許多廠家在研究開發(fā)、生產(chǎn)部門所使用。并且在光源?照明相關(guān)方面，對(duì)國(guó)家級(jí)研究機(jī)構(gòu)、各個(gè)廠家的銷售量在逐步擴(kuò)大。
我們的產(chǎn)品涵蓋LED、OLED等光源和照明行業(yè)，液晶和有機(jī)EL顯示的光學(xué)特性評(píng)估設(shè)備、測(cè)量半導(dǎo)體晶圓和薄膜厚度的設(shè)備，以及評(píng)估墨水、研磨劑、醫(yī)藥和化妝品材料的納米顆粒（粒徑和ζ電位）設(shè)備。
● 非接觸 · 非破壞 · 顯微、對(duì)焦、測(cè)量1秒完成 ● OPTM系列顯微分光膜厚儀是一款可替代橢偏儀，測(cè)試膜厚、折射率n、消光系數(shù)k、絕對(duì)反射率的新型高精度、高性價(jià)比的分光膜厚儀。
MINUK可評(píng)價(jià)nｍ級(jí)的透明的異物?缺陷，一次拍照即可瞬時(shí)獲得深度方向的信息，可非破壞?非接觸?非侵入的進(jìn)行測(cè)量。且無(wú)需對(duì)焦，可在任意的面進(jìn)行高速掃描,輕松決定測(cè)量位置。
大塚電子（蘇州）有限公司產(chǎn)品講解：ELSZneo、nanoSAQLA,OPTM,SF等
VR pancake模組的偏光片貼合角、相位差測(cè)量、LCoS液晶盒盒厚檢測(cè)Micro OLED薄膜厚度、彩色濾光片特性評(píng)估、和上述關(guān)聯(lián)的AR/VR/MR/XR終端研發(fā)
使用ELSZ系列、nanoSAQLA等測(cè)量設(shè)備或?qū)Υ擞信d趣的人。
大塚電子的 Zeta 電位測(cè)量系統(tǒng)“ELSZ 系列”不僅可以測(cè)量溶液中膠體粒子的 Zeta 電位，也可以測(cè)量平板狀、薄膜狀樣品的 Zeta 電位。通過(guò)這樣的測(cè)量可以評(píng)價(jià)平板狀樣品的表面改質(zhì)狀態(tài)以及液體中粒子的吸著特性。本次研討會(huì)將介紹其應(yīng)用。
無(wú)法測(cè)試出預(yù)想的結(jié)果，測(cè)試數(shù)據(jù)波動(dòng)這么大？是設(shè)置環(huán)境的不當(dāng)？運(yùn)用方法不對(duì)？ 還是測(cè)試條件設(shè)置有誤？如果您也有同樣的困惑，請(qǐng)記得務(wù)必參加我司的網(wǎng)絡(luò)學(xué)習(xí)會(huì)。
大塚電子利用光技術(shù)，開發(fā)出各種分析測(cè)量裝置，給客戶提供尖端測(cè)量技術(shù)支持。
大塚電子利用光技術(shù)，開發(fā)出各種分析測(cè)量裝置，給客戶提供尖端測(cè)量技術(shù)支持。
