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測量案例：電池行業(yè)（炭黑、碳納米管等）、半導(dǎo)體行業(yè)（晶圓、CMP漿料等）、生物·醫(yī)藥（凝膠粒子、納米金粒子等）、食品化妝品行業(yè)（氧化鈦等）。

應(yīng)用領(lǐng)域：光學(xué)膜、接著劑、硬化涂層、半導(dǎo)體光刻膠、食品用薄膜、醫(yī)療用薄膜等。

● 非接觸 · 非破壞 · 顯微、對焦、測量1秒完成。 ● OPTM系列顯微分光膜厚儀是一款可替代橢偏儀，測試膜厚、折射率n、消光系數(shù)k、絕對反射率 的新型高精度、高性價(jià)比的分光膜厚儀。

大塚電子MINUK可評價(jià)nｍ級的透明的異物?缺陷，一次拍照即可瞬時(shí)獲得深度方向的信息，可非破壞?非接觸?非侵入的進(jìn)行測量。且無需對焦，可在任意的面進(jìn)行高速掃描,輕松決定測量位置。

大塚電子（蘇州）有限公司產(chǎn)品講解：ELSZneo、nanoSAQLA,OPTM,SF等

VR pancake模組的偏光片貼合角、相位差測量、LCoS液晶盒盒厚檢測Micro OLED薄膜厚度、彩色濾光片特性評估、和上述關(guān)聯(lián)的AR/VR/MR/XR終端研發(fā)

使用ELSZ系列、nanoSAQLA等測量設(shè)備或?qū)Υ擞信d趣的人。

大塚電子的 Zeta 電位測量系統(tǒng)“ELSZ 系列”不僅可以測量溶液中膠體粒子的 Zeta 電位，也可以測量平板狀、薄膜狀樣品的 Zeta 電位。通過這樣的測量可以評價(jià)平板狀樣品的表面改質(zhì)狀態(tài)以及液體中粒子的吸著特性。本次研討會將介紹其應(yīng)用。

無法測試出預(yù)想的結(jié)果，測試數(shù)據(jù)波動這么大？是設(shè)置環(huán)境的不當(dāng)？運(yùn)用方法不對？ 還是測試條件設(shè)置有誤？如果您也有同樣的困惑，請記得務(wù)必參加我司的網(wǎng)絡(luò)學(xué)習(xí)會。

大塚電子（蘇州）有限公司主要銷售用于光學(xué)特性評價(jià)?檢查的裝置.其產(chǎn)品包括：納米粒度儀,薄膜厚度測厚儀,非接觸薄膜測厚儀,濕膜測厚儀,激光粒度儀,激光粒度分析儀,激光粒度測定儀,納米粒度儀,粒度分析儀.是zeta電位測定儀廠家,點(diǎn)擊了解價(jià)格和報(bào)價(jià)...

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平板顯示器、包裝用薄膜、光學(xué)薄膜等領(lǐng)域出現(xiàn)了各種各樣的產(chǎn)品，特別是在這些產(chǎn)品中，光學(xué)特性成為最重要的特性之一.推薦大塚電子-Inline分光計(jì)測儀器。...

大塚電子（蘇州）有限公司將參加2022年CIOE中國光博會，展出位置：13號館13E21，將展出的產(chǎn)品有：OPTM 顯微分光膜厚儀、ELSZ 粒徑、界達(dá)電位測試儀、MCPD，歡迎您前來免費(fèi)參觀。...